Low power chip design and test technologies
W: Matériel informatique – Logiciels – Cybersécurité – Blockchain – Internet des objets (IoT)
Informations
- Numéro de stand
- D04
- Classe d'exposition
- W: Matériel informatique – Logiciels – Cybersécurité – Blockchain – Internet des objets (IoT)
- Description technique
- Une technique de correction automatique d'erreur de phase a été présentée pour améliorer l'efficacité énergétique des puces à basse consommation en accélérant le démarrage de l'horloge. Les puces ont été testées avec un algorithme de test adaptatif pour garantir le champ de puce.
- Description simplifiée
- Une méthode corrige les erreurs de phase pour rendre les puces électroniques plus efficaces. Cela les aide à démarrer plus vite et économiser de l'énergie. Des tests adaptatifs ont vérifié leur bon fonctionnement.
Inventeur·rices
Nanjing University of Posts and Telecommunications
inventor 3701634007_4274
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