The invention

The invention

Low power chip design and test technologies

W: Matériel informatique – Logiciels – Cybersécurité – Blockchain – Internet des objets (IoT)

Informations

Numéro de stand
D04
Classe d'exposition
W: Matériel informatique – Logiciels – Cybersécurité – Blockchain – Internet des objets (IoT)
Description technique
Une technique de correction automatique d'erreur de phase a été présentée pour améliorer l'efficacité énergétique des puces à basse consommation en accélérant le démarrage de l'horloge. Les puces ont été testées avec un algorithme de test adaptatif pour garantir le champ de puce.
Description simplifiée
Une méthode corrige les erreurs de phase pour rendre les puces électroniques plus efficaces. Cela les aide à démarrer plus vite et économiser de l'énergie. Des tests adaptatifs ont vérifié leur bon fonctionnement.

Inventeur·rices


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