Informations

Numéro de stand

K21

Classe d'exposition

N: Optique – Photo – Cinéma – Lunetterie

Description technique

L'analyse des sources d'erreur et des mécanismes de la profilométrie à projection de franges, qui établit un modèle à facteur complet pour la chaîne d'erreur, optimise les méthodes d'encodage, de décodage et de compensation et améliore intelligemment la mesure tridimensionnelle.

Description simplifiée

Ce projet étudie les erreurs dans une technique de mesure utilisant des motifs projetés. Il crée un modèle pour comprendre ces erreurs, améliore la façon de coder et de décoder les données, et rend la mesure 3D plus précise.