Multi-mode Optical Characterisation Interferometer
L'invention
- Nom de l'invention
- Multi-mode Optical Characterisation Interferometer
- Interféromètre de caractérisation optique multimodal
description de l'invention
- Description
- Interféromètre de caractérisation optique multimodal qui est capable de mesurer différentes propriétés optiques. Il peut être utilisé dans de multiples secteurs, tels que l’optométrie, la fabrication de semi-conducteurs et l’optique avancée.
Inventeur·rices
Sanshan GAO inventor 3700533021_3230
Wenkai ZHAO inventor 3700533021_3229
Lai Ting HO inventor 3700533021_3228
Bo WANG inventor 3700533021_3227
Chi Fai CHEUNG inventor 3700533021_3226
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